Ellipsometry, Fachbücher von Agnes F. Vandome, Frederic P. Miller, John McBrewster
49,00 €
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Das Buch "Ellipsometry" von Alphascript Publishing bietet eine umfassende Einführung in die Ellipsometrie, eine vielseitige und leistungsstarke optische Technik zur Untersuchung der dielektrischen Eigenschaften von Dünnschichten. Diese Methode findet Anwendung in verschiedenen Bereichen, darunter Halbleiterphysik, Mikroelektronik und Biologie, und reicht von der Grundlagenforschung bis hin zu industriellen Anwendungen. Die Ellipsometrie ist bekannt für ihre hohe Sensitivität und ihre Fähigkeit, Informationen über Schichten zu liefern, die dünner sind als die Wellenlänge des verwendeten Lichts. Durch die Analyse der Polarisation von reflektiertem Licht ermöglicht diese Technik die Untersuchung von Schichten bis hinunter zu einzelnen atomaren Ebenen. Das Buch behandelt die grundlegenden physikalischen Parameter, die durch die Ellipsometrie zugänglich sind, und deren Zusammenhang mit verschiedenen Materialeigenschaften wie Morphologie, Kristallqualität, chemischer Zusammensetzung und elektrischer Leitfähigkeit.
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