X-Ray Reflectivity, Fachbücher von Lambert M. Surhone, Miriam T. Timpledon, Susan F. Marseken
29,00 €
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Das Buch "X-Ray Reflectivity" von Betascript Publishing bietet eine umfassende Einführung in die analytische Technik der Röntgenreflektometrie (XRR). Diese Methode ist besonders wertvoll in den Bereichen Chemie, Physik und Materialwissenschaften, da sie es ermöglicht, Oberflächen, Dünnfilme und Mehrschichtsysteme präzise zu charakterisieren. Durch die Reflexion eines Röntgenstrahls von einer flachen Oberfläche und die anschliessende Messung der Intensität der reflektierten Strahlen in der spekularen Richtung können Forscher wichtige Informationen über die Dichteprofile von Oberflächen gewinnen. Das Buch behandelt die Grundlagen dieser Technik sowie deren Anwendung und Bedeutung in verschiedenen wissenschaftlichen Disziplinen. Es ist eine wertvolle Ressource für Studierende und Fachleute, die sich mit der Analyse von Materialien und Oberflächenstrukturen beschäftigen.
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