The Reliability Of Strained Si Mosfets On Varied Technology Platforms, Fachbücher von Rimoon Agaiby

Das Buch "The Reliability Of Strained Si Mosfets On Varied Technology Platforms" bietet eine umfassende Untersuchung der Zuverlässigkeit von gestressten Silizium-MOSFETs auf verschiedenen Technologieplattformen. Es beleuchtet die Vor- und Nachteile der eingesetzten Technologien, die durch biaxiale oder uniaxiale Spannungen beeinflusst werden. Die Arbeit geht über die bereits umfangreiche Literatur zu den Vorteilen der Spannungsoptimierung hinaus und konzentriert sich auf Aspekte der Gerätezuverlässigkeit, die bisher wenig Beachtung fanden. Ziel ist es, die Notwendigkeit weiterer Forschung in diesem Bereich zu unterstreichen, um die Leistung und Langlebigkeit dieser Geräte zu verbessern. Die detaillierte Analyse und die kritische Betrachtung der verschiedenen Ansätze machen dieses Buch zu einer wertvollen Ressource für Fachleute und Studierende im Bereich der Halbleitertechnologie.