Electronic Properties of Semiconductor Interfaces, Fachbücher von Winfried Mönch

Das Buch "Electronic Properties of Semiconductor Interfaces" von Winfried Mönch bietet eine umfassende Analyse der elektronischen Eigenschaften von verschiedenen Halbleiter-Schnittstellen, die in nahezu allen Halbleiterbauelementen vorkommen. Diese Schnittstellen, darunter Metall-Halbleiter, Isolator-Halbleiter und Halbleiter-Halbleiter, spielen eine entscheidende Rolle für die Eigenschaften der Bauelemente. Mönch behandelt die Bandstruktur und die Schnittstelleneffekte, indem er das Konzept der interface-induced gap states (IFIGS) als zentrales Thema verwendet. Diese intrinsischen IFIGS sind die Wellenfunktion-Schwänze von Elektronenzuständen, die genau an der Schnittstelle mit der Bandlücke des Halbleiters überlappen und aus dem quantenmechanischen Tunnel-Effekt resultieren. Der Autor verbindet chemische Ansätze mit der Elektronegativitätstheorie, um die Barrieren und Bandversätze in Schottky-Kontakten und Halbleiter-Heterostrukturen quantitativ zu erklären. Dieses Fachbuch ist eine wertvolle Ressource für Wissenschaftler und Ingenieure, die sich mit der Physik und Technologie von Halbleiterbauelementen beschäftigen.