Functional Design Errors in Digital Circuits, Fachbücher von Valeria Bertacco, Kai-hui Chang, Igor L. Markov

Das Buch "Functional Design Errors in Digital Circuits Diagnosis" bietet umfassende Einblicke in innovative Methoden zur Automatisierung des Debugging-Prozesses in digitalen Schaltungen. Es deckt den gesamten Designfluss ab, beginnend bei der Register-Transfer-Ebene (RTL) bis hin zum Siliziumchip. Die Autoren, Kai-hui Chang, Igor L. Markov und Valeria Bertacco, präsentieren eine Vielzahl von Techniken, die darauf abzielen, die Effizienz und Qualität des Designs zu verbessern. Insbesondere werden Methoden zur Minimierung von Fehlerverfolgungen, zur direkten Identifizierung von Fehlerursachen und zur automatischen Behebung von Fehlern in Gate-Level- und RTL-Designs behandelt. Darüber hinaus wird eine symmetriebasierte Technologie zur Behebung elektrischer Fehler sowie ein integriertes System für die Verifikation und das Debugging nach der Siliziumfertigung vorgestellt. Die in diesem Buch beschriebenen Lösungen versprechen eine signifikante Reduzierung des Debugging-Aufwands und tragen zur Herstellung zuverlässigerer elektronischer Geräte bei.