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Advances in X-Ray Analysis, Fachbücher von William M. Mueller

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Produktdetails

"Advances in X-Ray Analysis" ist ein Fachbuch, das auf der zehnten jährlichen Konferenz zu Anwendungen der Röntgenanalyse basiert, die von der Universität Denver im Jahr 1961 veranstaltet wurde. Diese Konferenz brachte etwa 300 Teilnehmer zusammen, die von der Präsentation von 56 wissenschaftlichen Arbeiten über neue Entwicklungen in der Röntgenmethodik profitierten. Das Buch enthält 48 dieser Arbeiten sowie eine zusätzliche, die zu spät zur Veröffentlichung in einem vorherigen Band eingereicht wurde. Die kontinuierliche Entwicklung und das Wachstum dieser jährlichen Konferenzen belegen die dynamische und gesunde Entwicklung des Forschungsfeldes der Röntgenanalyse. Die finanzielle Unterstützung durch das United States Office of Naval Research ermöglichte es, zwei angesehene Wissenschaftler aus Europa einzuladen, was die internationale Relevanz und den Austausch in diesem Bereich unterstreicht. Dieses Buch ist eine wertvolle Ressource für Fachleute und Studierende, die sich mit den neuesten Fortschritten in der Röntgenanalyse beschäftigen möchten.

Informationen

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Marke:Springer