ESD Protection Challenges, Fachbücher von Steven Thijs

Das Buch "ESD Protection Challenges" von Steven Thijs bietet eine umfassende Analyse der Herausforderungen im Bereich des elektrostatischen Entladungs (ESD) Schutzes, insbesondere im Kontext der FinFET-Technologie und der CMOS-Anwendungen. Es beleuchtet die begrenzte Siliziumvolumenverfügbarkeit zur Ableitung von ESD-Strom und die Notwendigkeit, ESD-Schutzlösungen zu entwickeln, die die Leistung von Hochfrequenzanwendungen nicht beeinträchtigen. Durch die Untersuchung komplexer Abhängigkeiten zwischen verschiedenen ESD-Leistungsparametern, Gerätegeometrie und Prozess-Technologie liefert das Buch wertvolle Einblicke in die Entwicklung innovativer RF-ESD-Schutzlösungen für moderne CMOS-Technologien. Es richtet sich an Fachleute in der Produktentwicklung, Forschung und Lehre, die sich mit ESD-Themen auseinandersetzen.