The Effect of Nuclear Reactions on Integrated Circuit Reliability, Fachbücher von Nathaniel Dodds

Das Buch "The Effect of Nuclear Reactions on Integrated Circuit Reliability" von Nathaniel Dodds bietet eine umfassende Analyse der Auswirkungen von nuklearen Reaktionen auf die Zuverlässigkeit integrierter Schaltungen. Es werden direkte Messungen zur Ladungssammlung präsentiert, die zeigen, dass die Nähe von Wolfram zu empfindlichen Bereichen extreme Ladungssammelereignisse durch nukleare Reaktionen verursacht. Die Untersuchung befasst sich mit der Beziehung zwischen der Energie der einfallenden Partikel und der Anfälligkeit für Einzelereigniseffekte, wobei ein worst-case-Szenario identifiziert wird, das von der verwendeten Technologie und dem Layout des Geräts abhängt. Die Ergebnisse basieren auf Monte-Carlo-Simulationen, die auf verschiedene Technologien angewendet werden, und bieten wertvolle Einblicke in die Mechanismen, die die Ladungssammlung beeinflussen.