

X-Ray Crystal Truncation Rod, Fachbücher von Lambert M. Surhone, Miriam T. Timpledon, Susan F. Marseken
39,00 €
Das Buch "X-Ray Crystal Truncation Rod" von Betascript Publishing bietet eine umfassende Einführung in die Methode der Röntgenkristalltruncationsstangen (CTR) und deren Anwendung in der Oberflächenwissenschaft. Es behandelt die Analyse von Oberflächen-Röntgenbeugungsmustern (SXRD) und erklärt, wie diese Technik zur detaillierten Bestimmung der atomaren Struktur von kristallinen Oberflächen eingesetzt wird. Insbesondere wird auf die Bedeutung von CTR-Messungen eingegangen, die wertvolle Informationen über Oxidation, epitaxiales Wachstum und Adsorptionsstudien auf kristallinen Oberflächen liefern. Das Buch ist eine wertvolle Ressource für Fachleute und Studierende, die sich mit der Struktur und den Eigenschaften von Materialien auf atomarer Ebene beschäftigen.
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