Wafer Prober, Fachbücher von Lambert M. Surhone, Miriam T. Timpledon, Susan F. Marseken
29,00 €
Das Buch "Wafer Prober" bietet eine umfassende Einführung in die Technologie und die Prozesse, die mit der Prüfung von integrierten Schaltungen auf Siliziumwafern verbunden sind. Es behandelt die komplexen Schritte, die erforderlich sind, um integrierte Schaltungen kostengünstig herzustellen, und erläutert die Bedeutung des Testens vor der Trennung der Chips vom Wafer. Der Inhalt basiert auf Artikeln aus Wikipedia und anderen freien Quellen und bietet somit einen breiten Überblick über die Thematik. Die Funktionsweise des Wafer Probers wird detailliert beschrieben, einschliesslich der Verwendung von Probe Cards und der automatischen Mustererkennung, die für die präzise Ausrichtung der Wafer erforderlich ist. Dieses Fachbuch richtet sich an Leser, die ein tieferes Verständnis für die Technologien und Verfahren in der Halbleiterindustrie erlangen möchten.
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