Reliability Issues in Ultra-Scaled Flash Memories, Fachbücher von Michele Ghidotti

Das Buch "Reliability Issues in Ultra-Scaled Flash Memories" von Michele Ghidotti bietet eine umfassende Analyse der Zuverlässigkeitsprobleme, die mit der fortschreitenden Miniaturisierung von Flash-Speichertechnologien verbunden sind. Es beleuchtet die Auswirkungen der ständigen Verkleinerung der Strukturgrössen auf die Leistung von elektronischen Geräten, insbesondere im Hinblick auf das Random Telegraph Noise (RTN), das die Schwellenspannung (VT) von Speicherzellen beeinflusst. Der Autor präsentiert ein physikbasiertes statistisches Modell, das die Herausforderungen bei der Programmierung und der Datenintegrität in Technologien unterhalb der 60-nm-Grenze untersucht. Die zunehmende Granularität der gespeicherten Ladung und die Interferenz zwischen benachbarten Zellen werden ebenfalls thematisiert, was zu einer Verschlechterung der Datenspeicherung und letztlich zu einem Ausfall des Speichers führen kann. Dieses Fachbuch richtet sich an Fachleute und Forscher, die sich mit den neuesten Entwicklungen in der Halbleitertechnologie und deren Auswirkungen auf die Zuverlässigkeit von Flash-Speichern befassen.