Matching Properties of Deep Sub-Micron MOS Transistors, Fachbücher von Willy M. C. Sansen, Jeroen A. Croon, Herman E. Ma...

Das Fachbuch "Matching Properties of Deep Sub-Micron MOS Transistors" bietet eine umfassende Untersuchung der Eigenschaften von MOSFETs im Kontext von tiefen Sub-Mikron-Technologien. Es beleuchtet die Auswirkungen mikroskopischer Fluktuationen auf die Parameter der Transistoren und deren Einfluss auf die Genauigkeit in analogen und digitalen Schaltungen. Die Autoren präsentieren ein physikbasiertes Modell, das die Abweichungen im Drainstrom präzise beschreibt und die Herausforderungen bei der Dimensionierung von Schaltungen, wie etwa bei einem current-steering D/A-Wandler, thematisiert. Zudem werden gängige Methoden zur Extraktion der Matching-Eigenschaften bewertet, wobei Aspekte wie Modellgenauigkeit und Messgeschwindigkeit berücksichtigt werden. Die Analyse der physikalischen Ursprünge der Fluktuationen und deren Einfluss auf die MOSFET-Betriebsweise wird ebenfalls behandelt, was zu einer Verfeinerung des allgemein angewandten 1/Area-Gesetzes führt. Das Buch ist eine wertvolle Ressource für Fachleute und Studierende, die sich mit den Herausforderungen und Entwicklungen in der Halbleitertechnologie auseinandersetzen.