Far- and Near-field characterization of small radiation sources, Fachbücher von Arturo Chavez-Pirson, Dongjae Shin, Yong...

Das Buch "Far- and Near-field characterization of small radiation sources" bietet eine umfassende Untersuchung experimenteller Studien zu kleinen Strahlungsquellen, einschliesslich subwellenlängiger Öffnungen, photonischer Kristalllaser und Mikrodisklaser. Es behandelt sowohl die Charakterisierung im Nah- als auch im Fernfeld. Für die Fernfeldcharakterisierung hoch divergenter Emissionen wird ein neuartiger Solid-Angle-Scanner vorgestellt, der in der Lage ist, einen Detektor und die erforderliche Optik über die Oberfläche einer Kugel zu scannen, die im Zentrum der Strahlungsquelle positioniert ist. Mit diesem Instrument werden polarisationaufgelöste zweidimensionale Winkelverteilungen gemessen. Für die Nahfeldcharakterisierung subwellenlängiger Strukturen wird ein Nahfeld-Scanning-Optikmikroskop entwickelt, das eine Faserprobenübertragung über die Oberfläche der Quelle mit einer Scherkräftenabstandsregelung unter Verwendung von dualen Tuning-Gabeln ermöglicht. Mit diesem Instrument werden spektral aufgelöste Nahfeldbilder erfasst. Das Buch richtet sich an Fachleute und Studierende, die sich mit der Charakterisierung von Strahlungsquellen und den damit verbundenen Technologien beschäftigen.