

DFT+DFD: An Integrated Method for Design for Testability and Diagnosis, Fachbücher von Michael Hsiao, Nikhil Rahagude
Das Buch "DFT+DFD: An Integrated Method for Design for Testability and Diagnosis" bietet eine umfassende Analyse und innovati... Mehr erfahren
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Produktdetails
Das Buch "DFT+DFD: An Integrated Method for Design for Testability and Diagnosis" bietet eine umfassende Analyse und innovative Ansätze zur Verbesserung der Testbarkeit und Diagnose von Schaltungen. Es beleuchtet die Herausforderungen, die mit herkömmlichen Testpunktinsertionsmethoden verbunden sind, und schlägt eine neuartige Methode vor, um Testpunkte zu identifizieren, die nicht nur schwer zu testen sind, sondern auch auf unterscheidbaren Grenzen liegen. Diese Testability-Diagnosability (TD) Punkte ermöglichen eine effektivere Fehlererkennung und -diagnose. Darüber hinaus wird eine neue Architektur vorgestellt, die die Integration von Test- und Funktionsmodi mit minimalem zusätzlichen Aufwand ermöglicht. Das Buch richtet sich an Fachleute und Forscher im Bereich der Elektronik, die an der Optimierung von Test- und Diagnoseverfahren interessiert sind.
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Marke:Lap Lambert Academic