An Improved Markov Random Field Design Approach For Digital Circuits, Fachbücher von Vijanth Sagayan Asirvadam, Jahanzeb...

Das Buch "An Improved Markov Random Field Design Approach For Digital Circuits" bietet eine umfassende Analyse und innovative Ansätze zur Verbesserung der Zuverlässigkeit von digitalen Schaltungen, insbesondere im Kontext von nanoskaligen MOSFETs. Angesichts der Herausforderungen, die mit der Miniaturisierung von Halbleiterbauelementen einhergehen, wird die Notwendigkeit eines fehlerresistenten Schaltungsdesigns deutlich. Das Buch untersucht die Anwendung von Markov Random Fields (MRF) zur Erreichung dieser Fehlertoleranz und adressiert die Einschränkungen früherer Forschungen in den Bereichen Design, Simulation und Implementierung. Durch die Validierung der MRF-Fehlertoleranzregeln an praktischen Schaltbeispielen und die Erweiterung des Simulationsrahmens wird ein rigoroserer Ansatz zur Analyse von Rauschquellen in nanoskaligen Schaltungen präsentiert. Die vorgestellten Verbesserungen, einschliesslich der Neugestaltung der MRF-Gatter, bieten wertvolle Einblicke für Fachleute und Forscher im Bereich der digitalen Schaltungstechnik.