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Noise Analysis and Measurement for Active Pixel Sensor Readout Methods, Fachbücher von Dali Wu

Das Buch "Noise Analysis and Measurement for Active Pixel Sensor Readout Methods" bietet eine umfassende Untersuchung der Ger... Mehr erfahren

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Produktdetails

Das Buch "Noise Analysis and Measurement for Active Pixel Sensor Readout Methods" bietet eine umfassende Untersuchung der Geräuschentwicklung in aktiven Pixelsensoren, insbesondere in amorphen Siliziumsensoren (a-Si). Es behandelt sowohl den aktuellen als auch den Spannungsmodus und analysiert die Auswirkungen von Flicker- (1/f) und thermischem Rauschen. Die theoretischen und experimentellen Ergebnisse werden detailliert dargestellt, wobei der Schwerpunkt auf der Berechnung der Ausgangsrauschvarianz liegt. Die Analyse zeigt, dass der Spannungsmodus Vorteile gegenüber dem Strommodus aufweist, insbesondere in Bezug auf das Flickerrauschen, was durch den Lesevorgang bedingt ist. Die experimentellen Daten stimmen gut mit den theoretischen Analysen überein, was die Relevanz und Genauigkeit der Forschung unterstreicht. Dieses Fachbuch richtet sich an Fachleute und Studierende, die sich mit der Rauschmessung und -analyse in modernen Sensortechnologien beschäftigen.

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Marke:VDM