Electron and X-ray Microanalysis of Planetary Materials, Fachbücher von Hitesh Changela

Das Buch "Electron and X-ray Microanalysis of Planetary Materials" von Hitesh Changela bietet eine umfassende Untersuchung der Elektronen- und Röntgenmikroanalyse von planetarischen Materialien, einschliesslich Proben von Kometen und Mars. Es werden fortschrittliche Techniken der Elektronenmikroskopie und Röntgenspektroskopie vorgestellt, die zur Analyse von nakhlitischen Marsmeteoriten und Proben des Kometen 81P/Wild2 aus der Stardust-Mission entwickelt wurden. Die Arbeit beschreibt die Anwendung von Elektronenmikrosondenanalysen und der Fokussierten Ionenstrahl-Scanning-Elektronenmikroskopie (FIB-SEM) zur Untersuchung sekundärer Mineralassemblagen in den nakhlitischen Meteoriten. Zudem wird ein Modell zur Entstehung dieser Mineralassemblagen durch ein durch Einschläge induziertes hydrothermales System vorgeschlagen. Die Analyse der Stardust-Proben erfolgt unter Verwendung von FIB-TEM und mikrofokussierter Röntgenspektroskopie, um die Zusammensetzung des Kometen 81P/Wild2 und der Jupiter-Familienkometen zu verstehen.