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Charged Particle Traps II, Fachbücher von Fouad G. Major, Viorica N. Gheorghe, Günther Werth

"Charged Particle Traps II" ist der zweite Band einer umfassenden Reihe, die sich mit der Forschung zu geladenen Teilchenfäng... Mehr erfahren

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Produktdetails

"Charged Particle Traps II" ist der zweite Band einer umfassenden Reihe, die sich mit der Forschung zu geladenen Teilchenfängern beschäftigt. Dieses Fachbuch bietet eine detaillierte Analyse der elektromagnetischen Einschlussmethoden für Ionen und deren Anwendungen in verschiedenen wissenschaftlichen Disziplinen. Die Autoren, Günther Werth, Viorica N. Gheorghe und Fouad G. Major, beleuchten die Fortschritte in Bereichen wie der Massenspektrometrie, der Frequenzstandardisierung und der Quantencomputing-Technologie. Durch die Zusammenstellung und Organisation der umfangreichen Literatur zu diesem Thema wird der aktuelle Stand der Forschung klar und verständlich dargestellt. Der Band ist eine wertvolle Ressource für Wissenschaftler und Studierende, die sich mit den theoretischen und experimentellen Aspekten der geladenen Teilchenfängertechniken auseinandersetzen möchten. Die Inhalte sind sowohl für Fachleute als auch für Interessierte zugänglich, die die Entwicklungen in diesem dynamischen Forschungsfeld nachvollziehen möchten.

Informationen

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Marke:Springer