Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition, Fachbücher von Marco Loog, Niels Da Vitoria Lobo, Fabio Roli...
106,99 €
Das Buch "Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition" ist ein bedeutender Beitrag zur Forschung im Bereich der Mustererkennung und maschinellen Lernens. Es umfasst eine Sammlung von 98 wissenschaftlichen Arbeiten, die während der S+SSPR 2008 Workshops präsentiert wurden. Diese Workshops wurden von den Technischen Komitees der International Association for Pattern Recognition (IAPR) organisiert und fanden an der University of Central Florida in Orlando, Florida, statt. Die Beiträge in diesem Band spiegeln die internationale Reichweite und die Vielfalt der eingereichten Arbeiten wider, die aus verschiedenen Ländern stammen. Die Themen reichen von strukturellen und syntaktischen Ansätzen bis hin zu statistischen Methoden, die in der Mustererkennung Anwendung finden. Die Publikation bietet wertvolle Einblicke in aktuelle Trends und Entwicklungen in der Forschungsgemeinschaft und ist eine wichtige Ressource für Wissenschaftler und Praktiker auf diesem Gebiet.
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