VLSI Design and Test, Fachbücher von Vijay Laxmi, Manoj Singh Gaur, Virendra Sing, Mark Zwolinski, D. Boolchandani, Adit...
53,49 €
Das Buch "VLSI Design and Test" dokumentiert die referierten Beiträge des 17. Internationalen Symposiums zu VLSI-Design und -Test, das 2013 in Jaipur, Indien, stattfand. Es umfasst 44 sorgfältig ausgewählte Arbeiten, die aus 162 eingereichten Manuskripten hervorgegangen sind. Die behandelten Themen reichen von den neuesten Entwicklungen im Design und Test von VLSI-Komponenten über Schaltungen bis hin zu Systemen. Die Beiträge sind in thematische Abschnitte unterteilt, die sich mit VLSI-Design, Testverfahren, Verifikation, eingebetteten Systemen und aufkommenden Technologien befassen. Dieses Fachbuch bietet wertvolle Einblicke in die aktuellen Herausforderungen und Fortschritte in der VLSI-Technologie und richtet sich an Fachleute und Forscher in diesem Bereich.
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