Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy, Fachbücher von Wolfgang Dahmen, Thomas Vogt, Peter Binev

Das Buch "Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy" bietet einen umfassenden Überblick über die neuesten Fortschritte in der mathematischen Modellierung zur Lösung von Herausforderungen in der Elektronenmikroskopie. Es beleuchtet, wie moderne mathematische Methoden die Effizienz und Genauigkeit von Scanning Transmission Electron Microscopes (STEM) verbessern können. Durch die Integration von fortschrittlicher Hardware und Software zur Aberrationskorrektur wird die Fähigkeit zur nanoskaligen Bildgebung erheblich erweitert. Dieses Fachbuch, das erste seiner Art seit 1998, behandelt auch wichtige Konzepte wie Superauflösungstechniken, spezielle Denoising-Methoden, die Anwendung mathematischer und statistischer Lernverfahren sowie komprimierte Abtastung. Es richtet sich an Fachleute und Studierende, die sich mit den mathematischen Grundlagen und deren praktischen Anwendungen in der Mikroskopie auseinandersetzen möchten.