Advances in X-Ray Analysis, Fachbücher von Charles S. Barrett, John V. Gilfrich, John C. Russ, Paul K. Predecki, Ron Jen...
213,99 €
"Advances in X-Ray Analysis" ist ein Fachbuch, das die Ergebnisse der 37. jährlichen Denver-Konferenz zu Anwendungen der Röntgenanalyse dokumentiert, die vom 1. bis 5. August 1988 stattfand. Diese Konferenz brachte führende Experten zusammen, um die neuesten Entwicklungen in der Röntgenfluoreszenzanalyse und der Röntgenbeugung zu diskutieren. Ein zentrales Thema der Plenarsitzung war die Synchrotronstrahlung, die in den letzten Jahren einen erheblichen Einfluss auf die Röntgen-Community hatte. Die Beiträge der renommierten Forscher bieten tiefgehende Einblicke in die Anwendung und Entwicklung von hochintensiven, polarisierbaren und kollimierten Röntgenstrahlen, die nur in spezialisierten Speicherringen verfügbar sind. Dieses Buch ist eine wertvolle Ressource für Fachleute und Studierende, die sich mit den Fortschritten in der Röntgenanalyse auseinandersetzen möchten und die Bedeutung der Synchrotronstrahlung in der modernen Forschung verstehen wollen.
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