Materials and Reliability Handbook for Semiconductor Optical and Electron Devices, Fachbücher von Osamu Ueda, Stephen J....

Das "Materials and Reliability Handbook for Semiconductor Optical and Electron Devices" bietet eine umfassende Analyse der Zuverlässigkeitsverfahren und -ansätze für elektronische und photonische Geräte. Es behandelt Themen wie Laser und Hochgeschwindigkeits-Elektronik, die in modernen Technologien wie Mobiltelefonen, Satelliten und Datenübertragungssystemen eingesetzt werden. Ein zentrales Anliegen des Handbuchs ist die ungenaue Lebensdauerprognose für Halbleitergeräte, die oft auf der unzureichenden Standardisierung von Testprotokollen beruht. Das Werk beleuchtet die Herausforderungen bei der Vorhersage von Geräteausfällen, die durch elektrische Felder, Strommechanismen und andere physikalische Prozesse beeinflusst werden. Es wird ein besonderer Fokus auf die Zuverlässigkeitsprüfung von III-V-Halbleitern gelegt, einschliesslich der Material- und elektrischen Charakterisierung sowie der Entwicklung neuer Simulationsmethoden zur Verbesserung der Zuverlässigkeit von Geräten. Das Handbuch ist eine wertvolle Ressource für Fachleute, die sich mit der Zuverlässigkeit von Halbleitergeräten beschäftigen.