Minimizing and Exploiting Leakage in VLSI Design, Fachbücher von Rajesh Garg, Nikhil Jayakumar, Suganth Paul

Das Buch "Minimizing and Exploiting Leakage in VLSI Design" bietet eine umfassende Analyse der Herausforderungen und Lösungen im Bereich des Energieverbrauchs von VLSI-Schaltungen. Angesichts des steigenden Stromverbrauchs, insbesondere in tragbaren elektronischen Geräten, wird die Reduzierung des Leckstroms zu einem zentralen Thema in der VLSI-Entwicklung. Das Werk beleuchtet die Bedeutung des Leckstroms, der durch aktuelle Skalierungstrends zu einem wesentlichen Bestandteil des Gesamtstromverbrauchs geworden ist. Es werden zwei innovative Techniken vorgestellt, die darauf abzielen, den Leckstrom in digitalen VLSI-ICs zu minimieren: die selektive Verwendung von Hochschwellenspannungs-Schlaftransistoren und die Anwendung der optimalen Reverse Body Bias (RBB)-Spannung. Darüber hinaus wird aufgezeigt, wie der Leckstrom als Chance genutzt werden kann, insbesondere durch den Einsatz von Subthreshold-Logik. Dieses Buch richtet sich an Fachleute und Studierende, die sich mit der Optimierung von VLSI-Designs und der Energieeffizienz in modernen elektronischen Geräten beschäftigen.