Instruction generation for cache resident self test of processors, Fachbücher von Sankaranarayanan Gurumurthy

Das Buch "Instruction Generation for Cache Resident Self Test of Processors" von Sankaranarayanan Gurumurthy bietet eine umfassende Analyse und innovative Ansätze zur Durchführung von Selbsttests für Prozessoren. Angesichts der zunehmenden Bedeutung von Verzugsfehlern in modernen Fertigungstechnologien wird die Notwendigkeit von funktionalen Tests, die mit den Geschwindigkeitsanforderungen der Prozessoren Schritt halten, immer dringlicher. Traditionell erforderten solche Tests teure automatische Testgeräte, was durch die Einführung von cache-residenten Tests, die die Intelligenz des Prozessors nutzen, erheblich vereinfacht wurde. Dieses Buch behandelt die Herausforderungen, die mit der Generierung von Testanweisungen verbunden sind, und schlägt eine automatisierte Technik vor, die den manuellen Aufwand zur Erstellung effektiver Tests reduziert. Es richtet sich an Fachleute und Studierende, die ein tieferes Verständnis für die Testmethoden von Prozessoren und deren Architektur entwickeln möchten.