Embedded Processor-Based Self-Test, Fachbücher von Dimitris Gizopoulos, Yervant Zorian, A. Paschalis

Das Buch "Embedded Processor-Based Self-Test" bietet eine umfassende Anleitung zu Selbstteststrategien für eingebettete Prozessoren, die in modernen System-on-Chip (SoC)-Architekturen weit verbreitet sind. Die Herausforderung beim Testen von Mikroprozessoren und eingebetteten Prozessoren liegt in der Komplexität ihrer Architektur, die aus leistungsstarken Datenpfadeinheiten und ausgeklügelter Steuerlogik besteht. Traditionelle Testmethoden sind oft nicht anwendbar, was die Notwendigkeit von strukturierten Design-for-Testability (DfT)-Ansätzen und hardwarebasierten Selbsttesttechniken unterstreicht. Diese Techniken müssen jedoch sorgfältig in das Design des Prozessors integriert werden, um negative Auswirkungen auf Leistung, Grösse und Energieverbrauch zu vermeiden. Das Buch hebt die Vorteile der Software-basierten Selbsttests (SBST) hervor, die es ermöglichen, eingebettete Softwareprogramme zur Selbstprüfung des Prozessors und seiner Umgebung zu nutzen. SBST stellt eine kosteneffiziente Lösung dar, die mit geringem Aufwand und niedrigen Testkosten umgesetzt werden kann.