Electrostatic Force Spectroscopy of Localized States, Fachbücher von Aykutlu Dana

Das Buch "Electrostatic Force Spectroscopy of Localized States" bietet eine umfassende Untersuchung der elektrostatistischen Kraftspektroskopie, einer innovativen Technik, die in der Nanotechnologie Anwendung findet. Es wird erläutert, wie diese Methode in Verbindung mit der Rasterkraftmikroskopie (AFM) eingesetzt werden kann, um elektronische Eigenschaften von Nanostrukturen mit einer Auflösung auf der Ebene einzelner Elektronen zu messen. Die Technik ermöglicht es, lokale Zustände in teilweise isolierenden Materialien zu charakterisieren, wo herkömmliche Methoden wie die Rastertunnelmikroskopie (STS) an ihre Grenzen stossen. Durch die Verwendung einer leitfähigen AFM-Spitze als Bias-Gate und Elektrometer können Ladungsereignisse mit einer Sensitivität erfasst werden, die besser ist als die von einzelnen Elektronen. Diese Methode eröffnet neue Möglichkeiten zur dreidimensionalen Kartierung der lokalen elektronischen Struktur und zur Analyse in Abhängigkeit von der Energie.