Positron Annihilation in Semiconductors, Fachbücher von Reinhard Krause-Rehberg, Hartmut S. Leipner

Das Buch "Positron Annihilation in Semiconductors" bietet eine umfassende Untersuchung von Gitterfehlern in Halbleitern durch die Methode der Positronen-Annihilation. Es behandelt verschiedene Positronentechniken und deren Anwendung auf unterschiedliche Defekte wie Vakanzen, Verunreinigungs-Vakanzen-Komplexe und Versetzungen. Der Autor vergleicht die Empfindlichkeit der Positronen-Annihilation zur Erkennung dieser Defekte mit anderen defekt-sensitiven Methoden. Zudem werden bedeutende Ergebnisse, die mit Positronen in nahezu allen wichtigen Halbleitern erzielt wurden, ausführlich dargestellt. Ein spezielles Kapitel widmet sich der Positronen-Annihilation als vielversprechendes Werkzeug für technologische Anwendungen. Der theoretische Hintergrund, der notwendig ist, um die experimentellen Ergebnisse zu verstehen, wird detailliert erklärt.