Charged Semiconductor Defects, Fachbücher von Meredith C. Kratzer, Edmund G. Seebauer
Das Fachbuch "Charged Semiconductor Defects" bietet eine umfassende Analyse der Defekte in Halbleitermaterialien und deren Ei... Mehr erfahren
Finde die besten Angebote
Bester Preis80 Punkte
Galaxus
Versandkostenfrei
Lieferzeit: 2-4 Werktage
Versandkostenfrei | Lieferzeit: 2-4 Werktage
Ähnliche Produkte
Produktdetails
Das Fachbuch "Charged Semiconductor Defects" bietet eine umfassende Analyse der Defekte in Halbleitermaterialien und deren Einfluss auf verschiedene physikalische Prozesse. Es beleuchtet die Bedeutung von Defektengineering, um das Verhalten von Halbleitern zu steuern, und untersucht sowohl intrinsische als auch extrinsische Defekte in verschiedenen Halbleitermaterialien, einschliesslich Gruppe IV, III-V und Oxid-Halbleitern. Die Autoren, Edmund G. Seebauer und Meredith C. Kratzer, präsentieren aktuelle Erkenntnisse über ionisierte Defekte und deren Auswirkungen auf die Leistung fortschrittlicher Transistoren, photoaktive Geräte, Katalysatoren und Sensoren. Das Buch ist eine wertvolle Ressource für Fachleute und Studierende, die sich mit der Materialwissenschaft und der Halbleitertechnologie beschäftigen.
Informationen
Lieferzeit:2-4 Werktage
Marke:Springer