New Horizons of Applied Scanning Electron Microscopy, Fachbücher von Kenichi Shimizu, Tomoaki Mitani
Das Buch "New Horizons of Applied Scanning Electron Microscopy" bietet eine umfassende Einführung in die modernen Techniken d... Mehr erfahren
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Produktdetails
Das Buch "New Horizons of Applied Scanning Electron Microscopy" bietet eine umfassende Einführung in die modernen Techniken der Rasterelektronenmikroskopie (REM). Es legt besonderen Wert auf die Bedeutung der Probenoberflächenvorbereitung, die entscheidend für die Qualität der Ergebnisse ist. Die Autoren Kenichi Shimizu und Tomoaki Mitani präsentieren detaillierte Verfahren zur Probenvorbereitung, die es ermöglichen, das volle Potenzial fortschrittlicher Rasterelektronenmikroskope auszuschöpfen. Durch die Anwendung dieser Techniken können Leserinnen und Leser hochauflösende und präzise Bilder erzeugen, die neue Einblicke in die Materialwissenschaften und verwandte Disziplinen bieten. Das Buch richtet sich an Fachleute und Studierende, die ihre Kenntnisse in der Rasterelektronenmikroskopie vertiefen möchten und ist ein wertvolles Nachschlagewerk für die praktische Anwendung dieser Technologie.
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Marke:Springer