An Innovative Approach of Low cost CP-PLL DFT Design, Fachbücher von Ashish Tiwari

Das Buch "An Innovative Approach of Low cost CP-PLL DFT Design" bietet eine umfassende Analyse und innovative Lösungen zur Erkennung von Rechenfehlern durch Design for Testability (DFT) in Charge Pump Phase Locked Loops (CP-PLL). Es richtet sich an Fachleute und Studierende im Bereich der gemischten Signal-IC-Entwicklung und beleuchtet die Herausforderungen, die mit der zunehmenden Komplexität dieser Schaltungen einhergehen. Der Autor, Ashish Tiwari, präsentiert eine Methode, die den Charge Pump als Stimulusgenerator und den spannungsgesteuerten Oszillator (VCO) als Messgerät nutzt, um die Effizienz des Testprozesses zu steigern. Durch die Vermeidung externer Komponenten wird der Platzbedarf auf dem Chip minimiert, was zu einer kostengünstigen und effektiven Testlösung führt. Die vorgestellte Struktur zeigt eine hohe Fehlerabdeckung von 98,2 % und einen geringen Flächenaufwand von etwa 3,025 %.