Impact of Leakage Power Reduction Techniques on Parametric Yield, Fachbücher von Sudip Roy, Ajit Pal

Das Buch "Impact of Leakage Power Reduction Techniques on Parametric Yield" bietet eine umfassende Analyse der Herausforderungen, die durch Variationen in den Prozessparametern bei der Herstellung integrierter Schaltungen entstehen. Mit dem Fortschritt der Fertigungstechnologien ist der Verlust der parametrischen Ausbeute zu einem ernsthaften Problem für Fertigungshäuser geworden. Die Autoren, Sudip Roy und Ajit Pal, schlagen innovative Ansätze zur Reduzierung des Leckstroms vor, die sowohl die Effizienz als auch die Toleranz gegenüber Prozessvariationen verbessern. Insbesondere wird ein einheitlicher Schwellenwertansatz vorgestellt, der eine vergleichbare Reduzierung des Leckstroms wie bestehende duale Schwellenwertzuweisungen bietet, jedoch weniger anfällig für Prozessparameteränderungen ist. Diese Techniken sind besonders relevant für die digitale Schaltungsdesign-Flow und bieten wertvolle Einblicke für Fachleute im Bereich der Schaltungsentwicklung.