Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs, Fachbücher von Sheldon X.-D. Tan, H...

Das Buch "Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs" bietet eine umfassende und systematische Untersuchung der statistischen Modellierung und Analyse von VLSI-Systemen, insbesondere im Hinblick auf die Herausforderungen, die mit der Miniaturisierung in den Nanometerbereich verbunden sind. Angesichts der zunehmenden Prozessvariationen und Unsicherheiten in der Chip-Leistung ist es entscheidend, präzise und effiziente Methoden zur Charakterisierung dieser Variationen zu entwickeln. Dieses Fachbuch richtet sich an Fachleute und Studierende, die sich mit der Entwicklung von VLSI-Chips befassen, und bietet wertvolle Einblicke in variation-aware Designmethoden sowie in die computergestützte Entwurfsunterstützung (CAD) für VLSI-Systeme. Es behandelt aktuelle Entwicklungen in der statistischen Modellierung und Analyse, einschliesslich der Modellierung von interconnects, der Analyse von Stromnetzen und der Untersuchung von analogen/mischsignal Schaltungen.