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Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications, Fachbücher von Ben Kaczer, Jacopo Franco...

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Produktdetails

Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications, Fachbücher von Ben Kaczer, Jacopo Franco, Guido Groeseneken

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Marke:Springer