Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures, Fachbücher von Mathias Schubert

Das Buch "Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures" bietet eine umfassende Einführung in die Anwendung der Infrarot-Ellipsometrie zur Untersuchung von Halbleiter-Schichtstrukturen. Es behandelt grundlegende Konzepte wie Phononen, Plasmonen und Polaritonen sowie die Infrarot-Dielektrizitätsfunktion von Halbleitern in geschichteten Strukturen. Der Autor, Mathias Schubert, legt besonderen Wert auf die Analyse von Spannungen, Zusammensetzungen und dem atomaren Zustand innerhalb komplexer Schichtstrukturen von multinary Legierungen. Die Untersuchung der Eigenschaften von freien Ladungsträgern und magneto-optischen Effekten wird ebenfalls ausführlich behandelt. Das Buch enthält zahlreiche experimentelle Beispiele, die sich auf multinary Legierungen von Halbleitermaterialien mit Zinkblende- und Wurtzitstruktur konzentrieren, und diskutiert zukünftige Anwendungen, einschliesslich organischer Schichtstrukturen und hoch korrelierter Elektronensysteme.